国芯科技:汽车电子离手检测触控MCU新产品内部测试成功

钛媒体App 6月17日消息,国芯科技公告称,公司研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O内部测试成功。该芯片基于40nmEFLASH工艺,集成多种功能模块,封装形式包括LQFP48/LQFP64等,有望为解决我国新能源汽车产业方向盘离手检测集成化触控MCU芯片的“缺芯”问题做出贡献。(公司公告)
国芯科技

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